EnglishMisure di riflettività per valutare piccoli spessori
Capire la Time-Resolved Reflectivity: una tecnica di analisi basata sull’interferenza da lamina sottile / Corni, Federico; Mazzega, Ezio; Michelini, Marisa; Ottaviani, Giampiero. - In: LA FISICA NELLA SCUOLA. - ISSN 1120-6527. - STAMPA. - XXVIII(1995), pp. 31-38.
| Data di pubblicazione: | 1995 |
| Titolo: | Capire la Time-Resolved Reflectivity: una tecnica di analisi basata sull’interferenza da lamina sottile |
| Autore/i: | Corni, Federico; Mazzega, Ezio; Michelini, Marisa; Ottaviani, Giampiero |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Rivista: | |
| Volume: | XXVIII |
| Pagina iniziale: | 31 |
| Pagina finale: | 38 |
| Citazione: | Capire la Time-Resolved Reflectivity: una tecnica di analisi basata sull’interferenza da lamina sottile / Corni, Federico; Mazzega, Ezio; Michelini, Marisa; Ottaviani, Giampiero. - In: LA FISICA NELLA SCUOLA. - ISSN 1120-6527. - STAMPA. - XXVIII(1995), pp. 31-38. |
| Tipologia | Articolo su rivista |
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