Misure di riflettività per valutare piccoli spessori
Capire la Time-Resolved Reflectivity: una tecnica di analisi basata sull’interferenza da lamina sottile / Corni, Federico; Mazzega, Ezio; Michelini, Marisa; Ottaviani, Giampiero. - In: LA FISICA NELLA SCUOLA. - ISSN 1120-6527. - STAMPA. - XXVIII:(1995), pp. 31-38.
Capire la Time-Resolved Reflectivity: una tecnica di analisi basata sull’interferenza da lamina sottile
CORNI, Federico;MAZZEGA, Ezio;MICHELINI, Marisa;OTTAVIANI, Giampiero
1995-01-01
Abstract
Misure di riflettività per valutare piccoli spessori
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