Dielectric breakdown in HfO2 dielectrics: Using multiscale modeling to identify the critical physical processes involved in oxide degradation / Strand, Jack; La Torraca, Paolo; Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Shluger, Alexander L.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 131:23(2022), pp. 234501-234501. [10.1063/5.0083189]

Dielectric breakdown in HfO2 dielectrics: Using multiscale modeling to identify the critical physical processes involved in oxide degradation

Strand, Jack;La Torraca, Paolo;Padovani, Andrea;Larcher, Luca;
2022

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234501
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Dielectric breakdown in HfO2 dielectrics: Using multiscale modeling to identify the critical physical processes involved in oxide degradation / Strand, Jack; La Torraca, Paolo; Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Shluger, Alexander L.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 131:23(2022), pp. 234501-234501. [10.1063/5.0083189]
Strand, Jack; La Torraca, Paolo; Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Shluger, Alexander L.
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