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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
On the impact of channel compositional variations on total threshold voltage variability in nanoscale InGaAs MOSFETs 1-gen-2018 Zagni, Nicolo; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Verzellesi, Giovanni
On the RESET-SET transition in Phase Change Memories 1-gen-2008 G., Puzzilli; F., Irrera; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo; Larcher, Luca; A., Arya; DELLA MARCA, Vincenzo; A., Pirovano
Performance Analysis of Solar Energy Harvesting Circuits for Autonomous Sensors 1-gen-2008 Bertacchini, Alessandro; D., Dondi; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Performances and Trade-offs of Low-Bit Precision Neural Networks based on Resistive Memories 1-gen-2021 Zanotti, T.; Pavan, P.; Puglisi, F. M.
Photovoltaic Cell Modeling for Solar Energy Powered Sensor Networks 1-gen-2007 Dondi, Denis; D., Brunelli; L., Benini; Pavan, Paolo; Bertacchini, Alessandro; Larcher, Luca
Printed Technology Solutions for Audio Transducers 1-gen-2019 Torraca, P. L.; Ricci, Y.; Albrecht, A.; Bobinger, M.; Pavan, P.; Cattani, L.; Becherer, M.; Lugli, P.; Larcher, L.
Probing defects generation during stress in high-κ/metal gate FinFETs by random telegraph noise characterization 1-gen-2016 Puglisi, Francesco Maria; Costantini, Felipe; Kaczer, Ben; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Profiling charge distribution in NROM devices 1-gen-2006 Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Progresses in Modeling HfOx RRAM Operations and Variability 1-gen-2014 Larcher, Luca; Pirrotta, Onofrio; Puglisi, Francesco Maria; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo; Vandelli, Luca
Random dopant fluctuation variability in scaled InGaAs dual-gate ultra-thin body MOSFETs: source and drain doping effect 1-gen-2017 Zagni, Nicolo; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Verzellesi, Giovanni
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 142
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 142
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 43
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 14
  • VANDELLI, LUCA 9
  • ZAGNI, NICOLO' 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 26
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 17
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE International Integrated Rel... 1
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 142
Accesso al fulltext
  • no fulltext 95
  • reserved 41
  • partially open 5
  • open 1