On the Output Conductance Dispersion due to Traps and Self-Heating in Large Bulk, FDSOI and FinFET nMOS Devices / Tondelli, L.; Scholten, A. J.; Asanovski, R.; Pijper, R. M. T.; Dinh, T. V.; Selmi, L.. - (2024), pp. 345-348. (Intervento presentato al convegno 50th IEEE European Solid-State Electronics Research Conference, ESSERC 2024 tenutosi a Bruges nel 9-12 september 2024) [10.1109/ESSERC62670.2024.10719502].

On the Output Conductance Dispersion due to Traps and Self-Heating in Large Bulk, FDSOI and FinFET nMOS Devices

Tondelli L.;Asanovski R.;Selmi L.
2024

2024
50th IEEE European Solid-State Electronics Research Conference, ESSERC 2024
Bruges
9-12 september 2024
345
348
Tondelli, L.; Scholten, A. J.; Asanovski, R.; Pijper, R. M. T.; Dinh, T. V.; Selmi, L.
On the Output Conductance Dispersion due to Traps and Self-Heating in Large Bulk, FDSOI and FinFET nMOS Devices / Tondelli, L.; Scholten, A. J.; Asanovski, R.; Pijper, R. M. T.; Dinh, T. V.; Selmi, L.. - (2024), pp. 345-348. (Intervento presentato al convegno 50th IEEE European Solid-State Electronics Research Conference, ESSERC 2024 tenutosi a Bruges nel 9-12 september 2024) [10.1109/ESSERC62670.2024.10719502].
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