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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Energetic Approach for Steer-by-Wire in Off-highway Vehicles 1-gen-2003 Morselli, Riccardo; Bertacchini, Alessandro; Reggiani, W.; Pavan, Paolo; Zanasi, Roberto
Energy-efficient logic-in-memory I-bit full adder enabled by a physics-based RRAM compact model 1-gen-2018 Puglisi, Francesco Maria; Pacchioni, Lorenzo; Zagni, Nicolo; Pavan, Paolo
Enhancing Safety in Vehicles with Implement or Trailer using an Autonomous Wireless Sensor Network System 1-gen-2012 Dondi, Denis; Bertacchini, Alessandro; Scorcioni, Stefano; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Experimental/numerical investigation of buried-channel InGaAs MOS-HEMTs with Al2O3 gate dielectric 1-gen-2011 Morassi, Luca; Verzellesi, Giovanni; Pavan, Paolo; D., Veksler; I., Ok; H., Zhao; J. C., Lee; G., Bersuker
Explanation of current crowding phenomena induced by impact ionization in advanced Si bipolar transistors by means of electrical measurements and light emission microscopy 1-gen-1993 Pavan, P.; Vendrame, L.; Bigliardi, S.; Marty, A.; Chantre, A.; Zanoni, E.
Exploiting Blood Volume Pulse and Skin Conductance for Driver Drowsiness Detection 1-gen-2023 Poli, A.; Amidei, A.; Benatti, S.; Iadarola, G.; Tramarin, F.; Rovati, L.; Pavan, P.; Spinsante, S.
Feasibility of SIO2/Al2O3 tunnel dielectric for future Flash memories generations 1-gen-2008 Padovani, Andrea; Larcher, Luca; S., Verma; Pavan, Paolo; P., Majhi; P., Kapur; K., Parat; G., Bersuker; K., Saraswat
FHMM analysis for Multi-Defect Spectroscopy in HfOX RRAM 1-gen-2013 Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo
Flash Memories 1-gen-2001 Pavan, Paolo; Zanoni, E.
Flash memories for SoC: an overview on system constraints and technology issues 1-gen-2005 Larcher, Luca; Pavan, Paolo; A., Maurelli
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 141
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 141
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 42
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 13
  • VANDELLI, LUCA 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZAGNI, NICOLO' 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 59
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 25
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 17
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE International Integrated Rel... 1
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 141
Accesso al fulltext
  • no fulltext 94
  • reserved 41
  • partially open 5
  • open 1