EnglishPiezoresistive properties of thick-film resistors obtained with ink series supplied by different manufacturers were investigated as a function of composition, structure, sheet resistivity, and applied strain between 0 and ±1000 m strain. The strain sensitivity of thick-film resistors appears to be a strong function of the nature of the conductive grains and of the sheet resistivity of the paste; the results obtained suggest a dominant role of the tunneling effect in the conduction mechanism and in the strain sensitivity.
Piezoresistive effects in thick-film resistors / Canali, Claudio; D., Malavasi; Morten, Bruno; Prudenziati, Maria; Taroni, Andrea. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 51(1980), pp. 3282-3288.
| Data di pubblicazione: | 1980 |
| Titolo: | Piezoresistive effects in thick-film resistors |
| Autore/i: | Canali, Claudio; D., Malavasi; Morten, Bruno; Prudenziati, Maria; Taroni, Andrea |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Rivista: | |
| Volume: | 51 |
| Pagina iniziale: | 3282 |
| Pagina finale: | 3288 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:A1980JW36100056 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0019026443 |
| Citazione: | Piezoresistive effects in thick-film resistors / Canali, Claudio; D., Malavasi; Morten, Bruno; Prudenziati, Maria; Taroni, Andrea. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 51(1980), pp. 3282-3288. |
| Tipologia | Articolo su rivista |
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http://hdl.handle.net/11380/618922
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