A Comparative Analysis of Direct Leakage Current Compensation and Positive-Up-Negative-Down in the Characterization of Leaky Ferroelectric Structures / Tan, T.T., Wu, T.L., Liu, H.Y., Yu, C.Y., Grenouillet, L., Torraca, P.L., Padovani, A., Puglisi, F.M., Raghavan, N., Pey, K.L.. - (2025), pp. 1-3. (9th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference, EDTM 2025 Hong-Kong 9-12 March 2025) [10.1109/EDTM61175.2025.11040726].
A Comparative Analysis of Direct Leakage Current Compensation and Positive-Up-Negative-Down in the Characterization of Leaky Ferroelectric Structures
Torraca P. L.;Padovani A.;Puglisi F. M.;
2025
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