A Comparative Analysis of Direct Leakage Current Compensation and Positive-Up-Negative-Down in the Characterization of Leaky Ferroelectric Structures / Tan, T. T.; Wu, T. L.; Liu, H. Y.; Yu, C. Y.; Grenouillet, L.; Torraca, P. L.; Padovani, A.; Puglisi, F. M.; Raghavan, N.; Pey, K. L.. - (2025), pp. 1-3. ( 9th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference, EDTM 2025 Hong-Kong 9-12 March 2025) [10.1109/EDTM61175.2025.11040726].
A Comparative Analysis of Direct Leakage Current Compensation and Positive-Up-Negative-Down in the Characterization of Leaky Ferroelectric Structures
Torraca P. L.;Padovani A.;Puglisi F. M.;
2025
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