Embedded true random number generators enabled by hexagonal boron nitride memristors / Pazos, S.; Zanotti, T.; Zheng, W.; Shen, Y.; Zhu, K.; Yuan, Y.; Puglisi, F. M.; Roldan, J. B.; Lanza, M.. - (2024), pp. 01-05. ( 2024 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2024 Singapore 15-18/07/2024) [10.1109/IPFA61654.2024.10691091].
Embedded true random number generators enabled by hexagonal boron nitride memristors
Zanotti T.;Puglisi F. M.;
2024
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