Embedded true random number generators enabled by hexagonal boron nitride memristors / Pazos, S., Zanotti, T., Zheng, W., Shen, Y., Zhu, K., Yuan, Y., Puglisi, F.M., Roldan, J.B., Lanza, M.. - (2024), pp. 01-05. (2024 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2024 Singapore 15-18/07/2024) [10.1109/IPFA61654.2024.10691091].
Embedded true random number generators enabled by hexagonal boron nitride memristors
Zanotti T.;Puglisi F. M.;
2024
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