Effects of the Interfacial Layer on the Leakage Current and Hysteresis Behaviour of Ferroelectric Devices / Tan, Tiang Teck; Wu, Tian-Li; Coignus, Jean; Martin, Simon; Grenouillet, Laurent; Padovani, Andrea; Puglisi, Francesco Maria; Torraca, Paolo La; Shubhakar, Kalya; Raghavan, Nagarajan; Pey, Kin Leong. - (2024), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2024 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2024 tenutosi a Singapore, SINGAPORE nel 15-18 July 2024) [10.1109/ipfa61654.2024.10690943].
Effects of the Interfacial Layer on the Leakage Current and Hysteresis Behaviour of Ferroelectric Devices
Padovani, Andrea;Puglisi, Francesco Maria;Torraca, Paolo La;
2024
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(T. T. Tan - IPFA 2024) Effects of the Interfacial Layer on the Leakage Current and Hysteresis Behaviour of Ferroelectric Devices.pdf
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