Reliability Analysis of Random Telegraph Noisebased True Random Number Generators / Zanotti, T.; Ranjan, A.; O'Shea, S. J.; Raghavan, N.; Thamankar, R.; Pey, K. L.; Puglisi, F. M.. - (2023). (Intervento presentato al convegno IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) 2023 tenutosi a South Lake Tahoe, CA, USA nel October 2023) [10.1109/IIRW59383.2023.10477697].
Reliability Analysis of Random Telegraph Noisebased True Random Number Generators
Zanotti T.
;Puglisi F. M.
2023
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