Reliability Analysis of Random Telegraph Noisebased True Random Number Generators / Zanotti, T., Ranjan, A., O'Shea, S.J., Raghavan, N., Thamankar, R., Pey, K.L., Puglisi, F.M.. - (2023). (2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop, IIRW 2023 South Lake Tahoe, CA, USA October 2023) [10.1109/IIRW59383.2023.10477697].
Reliability Analysis of Random Telegraph Noisebased True Random Number Generators
Zanotti T.
;Puglisi F. M.
2023
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