Characterization and Advanced Modeling of Dielectric Defects in Low-Thermal Budget RMG MOSFETs Using 1/f Noise Analysis / Asanovski, R.; Arimura, H.; de Marneffe, J. -F.; Palestri, P.; Horiguchi, N.; Kaczer, B.; Selmi, L.; Franco, J.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - (2024), pp. 1-7. [10.1109/TED.2024.3351598]
Characterization and Advanced Modeling of Dielectric Defects in Low-Thermal Budget RMG MOSFETs Using 1/f Noise Analysis
Asanovski, R.
;Palestri, P.;Selmi, L.;
2024
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