High-k/InGaAs interface defects at cryogenic temperature / Cherkaoui, K.; La Torraca, P.; Lin, J.; Maraviglia, N.; Andersen, A.; Wernersson, L. E.; Padovani, A.; Larcher, L.; Hurley, P. K.. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 207:(2023), pp. 108719-108719. [10.1016/j.sse.2023.108719]

High-k/InGaAs interface defects at cryogenic temperature

La Torraca, P.;Padovani, A.;Larcher, L.;
2023

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108719
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High-k/InGaAs interface defects at cryogenic temperature / Cherkaoui, K.; La Torraca, P.; Lin, J.; Maraviglia, N.; Andersen, A.; Wernersson, L. E.; Padovani, A.; Larcher, L.; Hurley, P. K.. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 207:(2023), pp. 108719-108719. [10.1016/j.sse.2023.108719]
Cherkaoui, K.; La Torraca, P.; Lin, J.; Maraviglia, N.; Andersen, A.; Wernersson, L. E.; Padovani, A.; Larcher, L.; Hurley, P. K.
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(K. Cherkaoui - SSE 207, Sept 2023) High-k-InGaAs interface defects at cryogenic temperature.pdf

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