New insights on the excess 1/f noise at cryogenic temperatures in 28 nm CMOS and Ge MOSFETs for quantum computing applications / Asanovski, R.; Grill, A.; Franco, J.; Palestri, P.; Beckers, A.; Kaczer, B.; Selmi, L.. - (2022), pp. 711-714. ((Intervento presentato al convegno 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a San Francisco (USA) nel 3-7 Dec. 2022 [10.1109/IEDM45625.2022.10019388].
New insights on the excess 1/f noise at cryogenic temperatures in 28 nm CMOS and Ge MOSFETs for quantum computing applications
Asanovski, R.
;Selmi, L.
2022-01-01
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