EnglishDiscovery of ferroelectricity (FE) in binary oxides enables the advent of FE memories and a plethora of novel CMOS compatible building blocks spanning from the logic domain to high-density storage and neuromorphic computing. In this paper we develop the first comprehensive model of vertical Ferroelectric Field Effect Transistor, V-FeFET, to identify sources of variability, understand retention problems, and point a path to improving reliability and enabling high-density storage FE memories with extended endurance.
Variability sources and reliability of 3D-FeFETs / Pesic, M.; Beltrando, B.; Padovani, A.; Gangopadhyay, S.; Kaliappan, M.; Haverty, M.; Villena, M. A.; Piccinini, E.; Bertocchi, M.; Chiang, T.; Larcher, L.; Strand, J.; Shluger, A. L.. - 2021-:(2021), pp. 1-7. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2021 tenutosi a usa nel 2021 [10.1109/IRPS46558.2021.9405118].
| Data di pubblicazione: | 2021 | |
| Titolo: | Variability sources and reliability of 3D-FeFETs | |
| Autore/i: | Pesic, M.; Beltrando, B.; Padovani, A.; Gangopadhyay, S.; Kaliappan, M.; Haverty, M.; Villena, M. A.; Piccinini, E.; Bertocchi, M.; Chiang, T.; Larcher, L.; Strand, J.; Shluger, A. L. | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/IRPS46558.2021.9405118 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-85105570079 | |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000672563100030 | |
| Nome del convegno: | 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2021 | |
| Luogo del convegno: | usa | |
| Data del convegno: | 2021 | |
| Serie: | IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS | |
| Volume: | 2021- | |
| Pagina iniziale: | 1 | |
| Pagina finale: | 7 | |
| Citazione: | Variability sources and reliability of 3D-FeFETs / Pesic, M.; Beltrando, B.; Padovani, A.; Gangopadhyay, S.; Kaliappan, M.; Haverty, M.; Villena, M. A.; Piccinini, E.; Bertocchi, M.; Chiang, T.; Larcher, L.; Strand, J.; Shluger, A. L.. - 2021-:(2021), pp. 1-7. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2021 tenutosi a usa nel 2021 [10.1109/IRPS46558.2021.9405118]. | |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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http://hdl.handle.net/11380/1249315
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