Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs / Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - (2000), pp. 97-100. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a SAN FRANCISCO, CA nel DEC 10-13, 2000 [10.1109/IEDM.2000.904267].

Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs

SELMI, Luca;ABRAMO, Antonio;
2000-01-01

IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
SAN FRANCISCO, CA
DEC 10-13, 2000
97
100
Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico
Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs / Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - (2000), pp. 97-100. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a SAN FRANCISCO, CA nel DEC 10-13, 2000 [10.1109/IEDM.2000.904267].
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