Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs / Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - (2000), pp. 97-100. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a SAN FRANCISCO, CA nel DEC 10-13, 2000 [10.1109/IEDM.2000.904267].
Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs
SELMI, Luca;ABRAMO, Antonio;
2000-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
