EnglishImpact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs / Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - (2000), pp. 97-100. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a SAN FRANCISCO, CA nel DEC 10-13, 2000.
| Data di pubblicazione: | 2000 |
| Titolo: | Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs |
| Autore/i: | Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2000.904267 |
| Nome del convegno: | IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) |
| Luogo del convegno: | SAN FRANCISCO, CA |
| Data del convegno: | DEC 10-13, 2000 |
| Pagina iniziale: | 97 |
| Pagina finale: | 100 |
| Citazione: | Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs / Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - (2000), pp. 97-100. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a SAN FRANCISCO, CA nel DEC 10-13, 2000. |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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http://hdl.handle.net/11380/1163398
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