Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs / Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; Dalla Serra, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - (2000), pp. 97-100. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a SAN FRANCISCO, CA nel DEC 10-13, 2000.
Data di pubblicazione: | 2000 |
Titolo: | Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs |
Autore/i: | Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; Dalla Serra, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico |
Autore/i UNIMORE: | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2000.904267 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0034453363 |
Codice identificativo ISI: | WOS:000166855900022 |
Nome del convegno: | IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) |
Luogo del convegno: | SAN FRANCISCO, CA |
Data del convegno: | DEC 10-13, 2000 |
Pagina iniziale: | 97 |
Pagina finale: | 100 |
Citazione: | Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs / Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; Dalla Serra, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - (2000), pp. 97-100. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a SAN FRANCISCO, CA nel DEC 10-13, 2000. |
Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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