Study of low field electron transport in ultra-thin single and double gate SOI MOSFETs / Esseni, David; Abramo, Antonio; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico. - STAMPA. - (2002), pp. 719-722. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Device Meeting nel Dec. 2002.
Data di pubblicazione: | 2002 | |
Titolo: | Study of low field electron transport in ultra-thin single and double gate SOI MOSFETs | |
Autore/i: | Esseni, David; Abramo, Antonio; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico | |
Autore/i UNIMORE: | ||
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0036923505 | |
Codice identificativo ISI: | WOS:000185143400165 | |
Nome del convegno: | IEEE International Electron Device Meeting | |
Data del convegno: | Dec. 2002 | |
Pagina iniziale: | 719 | |
Pagina finale: | 722 | |
Citazione: | Study of low field electron transport in ultra-thin single and double gate SOI MOSFETs / Esseni, David; Abramo, Antonio; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico. - STAMPA. - (2002), pp. 719-722. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Device Meeting nel Dec. 2002. | |
Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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