A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors / Palestri, Pierpaolo; DALLA SERRA, Alberto; Selmi, Luca; M., Pavesi; Rigolli, P. L.; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 49 n.8:(2002), pp. 1427-1435.

A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors

SELMI, Luca;ABRAMO, Antonio;
2002

49 n.8
1427
1435
A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors / Palestri, Pierpaolo; DALLA SERRA, Alberto; Selmi, Luca; M., Pavesi; Rigolli, P. L.; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 49 n.8:(2002), pp. 1427-1435.
Palestri, Pierpaolo; DALLA SERRA, Alberto; Selmi, Luca; M., Pavesi; Rigolli, P. L.; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico
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