Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs / Palestri, P., Selmi, L., Dalla Serra, A., Abramo, A., Sangiorgi, E., M., P., P., R., F., W. - In: Future Trends in Microelectronics: The Nano Millennium / S.Luryi and J.Xu and A.Zaslavsky ; [a cura di] S. Luryi J. Xu A. Zaslavsky. - USA : Wiley, 2002. - ISBN 0471212474. - pp. 99-112
Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs
PALESTRI, Pierpaolo;SELMI, Luca;ABRAMO, Antonio;
2002
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