Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs / Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; Sangiorgi, Enrico; M., Pavesi; P., Rigolli; F., Widdershoven. - (2002), pp. 99-112.

Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs

SELMI, Luca;ABRAMO, Antonio;
2002-01-01

Future Trends in Microelectronics: The Nano Millennium
S. Luryi J. Xu A. Zaslavsky
0471212474
Wiley
STATI UNITI D'AMERICA
Advanced Physically Based Device Modeling for Gate Current and Hot Carrier Phenomena in Scaled MOSFETs / Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; Sangiorgi, Enrico; M., Pavesi; P., Rigolli; F., Widdershoven. - (2002), pp. 99-112.
Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; Sangiorgi, Enrico; M., Pavesi; P., Rigolli; F., Widdershoven
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