EnglishResults are presented showing the radiation response of ac-coupled FOXFET biased microstrip detectors and related test patterns to be used in the microvertex detector of the CDF experiment at Fermi National Laboratory. Radiation tolerance of detectors to gamma and proton irradiation has been tested and the radiation induced variations of the dc electrical parameters have been analyzed. Long term post-irradiation behaviour of detector characteristics have been studied, and the relevant room temperature annealing phenomena have been discussed.
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http://hdl.handle.net/11380/10833| Anno di pubblicazione: | 1993 |
| Titolo: | DEGRADATION OF SILICON AC-COUPLED MICROSTRIP DETECTORS INDUCED BY RADIATION |
| Autori: | BACCHETTA N; BISELLO D; CANALI C; FUOCHI PG; GOTRA Y; PACCAGNELLA A; VERZELLESI G |
| Autori interni: | CANALI, Claudio VERZELLESI, Giovanni |
| Rivista: | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE |
| Volume: | 40 |
| Pagina iniziale: | 2001 |
| Pagina finale: | 2007 |
| Appare nelle tipologie: | Articolo su rivista |
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