PALUMBO, FRANCESCO
 Distribuzione geografica
Salva come PNG Salva come JPEG
Continente #
NA - Nord America 160
AS - Asia 146
EU - Europa 52
SA - Sud America 21
AF - Africa 2
Totale 381
Salva come PNG Salva come JPEG
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 157
CN - Cina 52
SG - Singapore 47
HK - Hong Kong 27
BR - Brasile 13
GB - Regno Unito 13
IT - Italia 11
SE - Svezia 8
VN - Vietnam 7
FI - Finlandia 6
KR - Corea 6
RU - Federazione Russa 5
AR - Argentina 3
CA - Canada 3
DE - Germania 3
ID - Indonesia 3
EC - Ecuador 2
ES - Italia 2
NL - Olanda 2
ZA - Sudafrica 2
AE - Emirati Arabi Uniti 1
BD - Bangladesh 1
BG - Bulgaria 1
CL - Cile 1
FR - Francia 1
JP - Giappone 1
PE - Perù 1
TR - Turchia 1
VE - Venezuela 1
Totale 381
Salva come PNG Salva come JPEG
Città #
Santa Clara 36
Hefei 30
Singapore 28
Hong Kong 27
Ashburn 17
Chicago 9
London 9
Chandler 7
Helsinki 6
Seoul 6
Wilmington 6
Fairfield 5
The Dalles 5
Ho Chi Minh City 4
Nyköping 4
New York 3
Washington 3
Woodbridge 3
Amsterdam 2
Boardman 2
Brooklyn 2
Buffalo 2
Cambridge 2
Columbus 2
Council Bluffs 2
Houston 2
Jakarta 2
Los Angeles 2
Los Polvorines 2
Rio Grande 2
San Diego 2
Seattle 2
São Paulo 2
Tampa 2
Tempe 2
Acton 1
Angra dos Reis 1
Ankara 1
Ann Arbor 1
Atlanta 1
Beijing 1
Biên Hòa 1
Bra 1
Brasília 1
Buenos Aires 1
Cesena 1
Da Nang 1
Davenport 1
Denver 1
Detroit 1
Dongguan 1
Dubai 1
Dulles 1
Esmeraldas 1
Falkenstein 1
Fremont 1
Guangzhou 1
Guarenas 1
Hacienda Ibarra 1
Herval d'Oeste 1
Hải Dương 1
Islington 1
Johannesburg 1
Kilburn 1
Las Vegas 1
Modena 1
Nuremberg 1
Palu 1
Phoenix 1
Poplar 1
Porto Alegre 1
Princeton 1
Providencia 1
Redondo Beach 1
Rimini 1
Salt Lake City 1
Santa Isabel 1
Sofia 1
São Francisco do Sul 1
São José dos Campos 1
Tokyo 1
Toronto 1
Treze Tílias 1
Urânia 1
Vancouver 1
Totale 292
Salva come PNG Salva come JPEG
Nome #
Hardware implementation of a true random number generator integrating a hexagonal boron nitride memristor with a commercial microcontroller 134
Defect spectroscopy from electrical measurements: A simulation based technique 134
Spatio-Temporal Defect Generation Process in Irradiated HfO2 MOS Stacks: Correlated Versus Uncorrelated Mechanisms 115
Totale 383
Salva come PNG Salva come JPEG
Categoria #
all - tutte 2.291
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 2.291
Salva come PNG Salva come JPEG


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/202117 0 0 0 0 0 7 0 4 0 2 4 0
2021/202214 0 0 0 0 2 0 0 0 3 0 8 1
2022/202323 1 2 3 1 1 3 1 5 0 0 6 0
2023/202446 2 3 3 6 11 4 2 1 0 2 1 11
2024/2025143 4 1 3 7 25 25 5 9 18 7 21 18
2025/2026139 18 8 21 35 37 20 0 0 0 0 0 0
Totale 383