The resistance noise associated with electromigration in Al-Cu lines has been simulated.
Simulation of electromigrationphenomena and associated resistance noise in Al-Cu metallic lines / E., Alfinito; C., Pennetta; L., Reggiani; Fantini, Fausto; I., De Munari; A., Scorzoni. - STAMPA. - (2003), pp. 759-762. (Intervento presentato al convegno International Conference on Noise and Fluctuations tenutosi a Brno nel 2003).
Simulation of electromigrationphenomena and associated resistance noise in Al-Cu metallic lines
FANTINI, Fausto;
2003
Abstract
The resistance noise associated with electromigration in Al-Cu lines has been simulated.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
