Abstract

Soft-X study of buried interfaces in stratified media / N., M., A., G., L., S., A., V., Nannarone, S.. - STAMPA. - 7995:(2011), pp. N/A-N/A. (7th International Conference on Thin Film Physics and Applications Shanghai, PEOPLES R CHINA SEP 24-27, 2010) [10.1117/12.888179].

Soft-X study of buried interfaces in stratified media

NANNARONE, Stefano
2011

Abstract

Abstract
2011
Inglese
7th International Conference on Thin Film Physics and Applications
Shanghai, PEOPLES R CHINA
SEP 24-27, 2010
WOS:000294739900064
2-s2.0-79953039797
SEVENTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON THIN FILM PHYSICS AND APPLICATIONS
7995
79951S
N/A
N/A
9780819485687
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA
buried interfaces
N., Mahne; A., Giglia; L., Sponza; A., Verna; Nannarone, Stefano
Atti di CONVEGNO::Relazione in Atti di Convegno
273
5
Soft-X study of buried interfaces in stratified media / N., M., A., G., L., S., A., V., Nannarone, S.. - STAMPA. - 7995:(2011), pp. N/A-N/A. (7th International Conference on Thin Film Physics and Applications Shanghai, PEOPLES R CHINA SEP 24-27, 2010) [10.1117/12.888179].
none
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