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Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co-based nanometric periodic multilayers / P., Jonnard; K., Le Guen; M. H., Hu; J. M., Andre; S. K., Zhou; H. C. h., Li; J. T., Zhu; Z. S., Wang; N., Mahne; A., Giglia; Nannarone, Stefano; A., Verna; C., Meny; A., Galtayries; I., Esteve; M., Walls. - STAMPA. - 8168:(2011), pp. N/A-N/A. (Intervento presentato al convegno Conference on Advances in Optical Thin Films IV tenutosi a Marseille, FRANCE nel SEP 05-07, 2011) [10.1117/12.895316].
Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co-based nanometric periodic multilayers
NANNARONE, Stefano;
2011
Abstract
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