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Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co-based nanometric periodic multilayers / P., J., K., L.G., M. H., H.u., J. M., A., S. K., Z., H. C. H., L.i., J. T., Z., Z. S., W., N., M., A., G., Nannarone, S., A., V., C., M., A., G., I., E., M., W.. - STAMPA. - 8168:(2011), pp. N/A-N/A. (Advances in Optical Thin Films IV Marseille, fra SEP 05-07, 2011) [10.1117/12.895316].

Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co-based nanometric periodic multilayers

NANNARONE, Stefano;
2011

Abstract

abstract not available
2011
Advances in Optical Thin Films IV
Marseille, fra
SEP 05-07, 2011
WOS:000297790800033
2-s2.0-80455174274
8168
N/A
N/A
P., Jonnard; K., Le Guen; M. H., Hu; J. M., Andre; S. K., Zhou; H. C. H., Li; J. T., Zhu; Z. S., Wang; N., Mahne; A., Giglia; Nannarone, Stefano; A., ...espandi
Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co-based nanometric periodic multilayers / P., J., K., L.G., M. H., H.u., J. M., A., S. K., Z., H. C. H., L.i., J. T., Z., Z. S., W., N., M., A., G., Nannarone, S., A., V., C., M., A., G., I., E., M., W.. - STAMPA. - 8168:(2011), pp. N/A-N/A. (Advances in Optical Thin Films IV Marseille, fra SEP 05-07, 2011) [10.1117/12.895316].
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