EnglishA combined BIS-XPS study of the Pd-Si(111)7x7 interface formation is presented. A Pd2Si-like distribution of partial density of empty states is found starting from the early stages of Si-Pd bond formation
BIS INVESTIGATION OF PD-SI(111)7X7 INTERFACE FORMATION / J. Y., Veuillen; T. T., Nguyen; R., Cinti; D'Addato, Sergio; S., Turchini; Nannarone, Stefano; A., Santaniello; G., Rossi. - In: VACUUM. - ISSN 0042-207X. - STAMPA. - 41(1990), pp. 702-704.
| Data di pubblicazione: | 1990 |
| Titolo: | BIS INVESTIGATION OF PD-SI(111)7X7 INTERFACE FORMATION |
| Autore/i: | J. Y., Veuillen; T. T., Nguyen; R., Cinti; D'Addato, Sergio; S., Turchini; Nannarone, Stefano; A., Santaniello; G., Rossi |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/0042-207X(90)90456-9 |
| Rivista: | |
| Volume: | 41 |
| Pagina iniziale: | 702 |
| Pagina finale: | 704 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:A1990DR51600220 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0025556438 |
| Citazione: | BIS INVESTIGATION OF PD-SI(111)7X7 INTERFACE FORMATION / J. Y., Veuillen; T. T., Nguyen; R., Cinti; D'Addato, Sergio; S., Turchini; Nannarone, Stefano; A., Santaniello; G., Rossi. - In: VACUUM. - ISSN 0042-207X. - STAMPA. - 41(1990), pp. 702-704. |
| Tipologia | Articolo su rivista |
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http://hdl.handle.net/11380/668645
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