Questo lavoro affronta il problema dell'influenza delle scariche elettrostatiche (ESD-ElectroStatic Discharge) sui dispositivi a semiconduttori, fenomeno che rappresenta una delle cause più comuni di guasto, in particolare nei circuiti integrati MOS.
Un'introduzione al problema delle scariche elettrostatiche nei circuiti integrati / R., Benetti; Fantini, Fausto; B., Riccò. - In: ALTA FREQUENZA. - ISSN 0002-6557. - STAMPA. - LVI:(1987), pp. 31-40.
Un'introduzione al problema delle scariche elettrostatiche nei circuiti integrati.
FANTINI, Fausto;
1987
Abstract
Questo lavoro affronta il problema dell'influenza delle scariche elettrostatiche (ESD-ElectroStatic Discharge) sui dispositivi a semiconduttori, fenomeno che rappresenta una delle cause più comuni di guasto, in particolare nei circuiti integrati MOS.
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