EnglishL'affidabilità dei circuiti integrati riveste un'importanza crescente: ne vengono richiamati definizione e metodi di calcolo. Sono quindi esaminati i meccanismi di guasto principali, classificandoli secondo la localizzazione nella tessera di silicio.
Affidabilità e fisica dei guasti nei circuiti integrati in silicio / Fantini, Fausto; M., Vanzi. - In: ALTA FREQUENZA. - ISSN 0002-6557. - STAMPA. - LV(1986), pp. 113-126.
| Data di pubblicazione: | 1986 |
| Titolo: | Affidabilità e fisica dei guasti nei circuiti integrati in silicio |
| Autore/i: | Fantini, Fausto; M., Vanzi |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Rivista: | |
| Volume: | LV |
| Pagina iniziale: | 113 |
| Pagina finale: | 126 |
| Citazione: | Affidabilità e fisica dei guasti nei circuiti integrati in silicio / Fantini, Fausto; M., Vanzi. - In: ALTA FREQUENZA. - ISSN 0002-6557. - STAMPA. - LV(1986), pp. 113-126. |
| Tipologia | Articolo su rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti presenti in Iris Unimore sono rilasciati con licenza Creative Commons Attribuzione - Non commerciale - Non opere derivate 3.0 Italia, salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
Copyright © 2020