L'affidabilità dei circuiti integrati riveste un'importanza crescente: ne vengono richiamati definizione e metodi di calcolo. Sono quindi esaminati i meccanismi di guasto principali, classificandoli secondo la localizzazione nella tessera di silicio.
Affidabilità e fisica dei guasti nei circuiti integrati in silicio / Fantini, Fausto; M., Vanzi. - In: ALTA FREQUENZA. - ISSN 0002-6557. - STAMPA. - LV:(1986), pp. 113-126.
Affidabilità e fisica dei guasti nei circuiti integrati in silicio
FANTINI, Fausto;
1986
Abstract
L'affidabilità dei circuiti integrati riveste un'importanza crescente: ne vengono richiamati definizione e metodi di calcolo. Sono quindi esaminati i meccanismi di guasto principali, classificandoli secondo la localizzazione nella tessera di silicio.
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