Tis paper revies recent efforts and developments in microwave GaAs MESFET's both from a technological point of view and reliability evaluation.
GaAs MESFET technology and reliability aspects / P., Brambilla; Fantini, Fausto; G., Guarini; G., Mattana; G. F., Piacentini. - In: ALTA FREQUENZA. - ISSN 0002-6557. - STAMPA. - LV:(1986), pp. 81-93.
GaAs MESFET technology and reliability aspects.
FANTINI, Fausto;
1986
Abstract
Tis paper revies recent efforts and developments in microwave GaAs MESFET's both from a technological point of view and reliability evaluation.
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