EnglishSi passano in rassegna le problematiche legate al collaudo dei circuiti integrati a grande densità di integrazione, con particolare attenzione all'inadeguatezza dei modelli di guasto più diffusi, ai problemi della generazione delle sequenze di collaudo e della diagnostica.
PROBLEMATICHE CONNESSE CON IL COLLAUDO DEI CIRCUITI INTEGRATI DIGITALI / Fantini, Fausto; C., Morandi; A., Senin. - In: L'ELETTROTECNICA. - ISSN 0013-6131. - STAMPA. - LXXI(1984), pp. 391-403.
| Data di pubblicazione: | 1984 |
| Titolo: | PROBLEMATICHE CONNESSE CON IL COLLAUDO DEI CIRCUITI INTEGRATI DIGITALI |
| Autore/i: | Fantini, Fausto; C., Morandi; A., Senin |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Rivista: | |
| Volume: | LXXI |
| Pagina iniziale: | 391 |
| Pagina finale: | 403 |
| Citazione: | PROBLEMATICHE CONNESSE CON IL COLLAUDO DEI CIRCUITI INTEGRATI DIGITALI / Fantini, Fausto; C., Morandi; A., Senin. - In: L'ELETTROTECNICA. - ISSN 0013-6131. - STAMPA. - LXXI(1984), pp. 391-403. |
| Tipologia | Articolo su rivista |
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