Trap-related effects, passivation and hot-carrier aging in GaN-based MESFETs and HEMTs / E., Zanoni; G., Meneghesso; R., Pierobon; F., Rampazzo; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni. - STAMPA. - (2004). ((Intervento presentato al convegno European Microwave Week tenutosi a Amsterdam (Holland) nel Oct. 2004.

Trap-related effects, passivation and hot-carrier aging in GaN-based MESFETs and HEMTs

CHINI, Alessandro;VERZELLESI, Giovanni
2004

European Microwave Week
Amsterdam (Holland)
Oct. 2004
E., Zanoni; G., Meneghesso; R., Pierobon; F., Rampazzo; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni
Trap-related effects, passivation and hot-carrier aging in GaN-based MESFETs and HEMTs / E., Zanoni; G., Meneghesso; R., Pierobon; F., Rampazzo; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni. - STAMPA. - (2004). ((Intervento presentato al convegno European Microwave Week tenutosi a Amsterdam (Holland) nel Oct. 2004.
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