EnglishWe present and discuss reflectance and trasmittance measurements on CrSi_2 an FeSi_2 polycristalline films, The strong and sharp structures observed in the 100-700 cm^-1 wavenumber range are interpreted basin on normal modes symmetry properties. We also examine the optical response in the energy region around the band-gap for CrSi_2 and determine the dispersion of its complex refractive index.
Attenzione! Scheda prodotto non ancora validata dall'Ateneo
Dati e metadati della pubblicazione sono in fase di verifica da parte dell'Ateneo. In caso di errori o violazione dei diritti d'autore, contattare: supporto.iris@unimore.it
| Data di pubblicazione: | 1990 |
| Titolo: | Optical and vibrational properties of Cr and Fe disilicides |
| Autori: | A. BORGHESI; A. PIAGGI; A. STELLA; G. GUIZZETTI; F. NAVA; G. SANTORO |
| Autori: | |
| Data del convegno: | August 6-10, 1990 |
| Nome del convegno: | 20th International Conference on The Physics of Semiconductors |
| Luogo del convegno: | Thessaloniki |
| Titolo del libro: | The Physics of Semiconductors |
| Pagina iniziale: | 2001 |
| Pagina finale: | 2004 |
| Appare nelle tipologie: | Relazione in Atti di Convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti presenti in Iris Unimore sono rilasciati con licenza Creative Commons Attribuzione - Non commerciale - Non opere derivate 3.0 Italia, salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
Copyright © 2018