EnglishThe failure mechanisms affecting advanced Silicon integrated circuits are reviewed.
| Data di pubblicazione: | 1983 |
| Titolo: | Failure mechanisms and analysis of very large scale integrated circuits |
| Autori: | F. FANTINI; G.MATTANA |
| Autori: | |
| Data del convegno: | 11-13 October 1983 |
| Nome del convegno: | Journées d'Electronique 1983 |
| Luogo del convegno: | Lausanne |
| Titolo del libro: | Testing Complex Integrated Circuits: a Challenge |
| Pagina iniziale: | 85 |
| Pagina finale: | 104 |
| Appare nelle tipologie: | Relazione in Atti di Convegno |
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