The failure mechanisms affecting advanced Silicon integrated circuits are reviewed.
Failure mechanisms and analysis of very large scale integrated circuits / Fantini, Fausto; G., Mattana. - STAMPA. - (1983), pp. 85-104. (Intervento presentato al convegno Journées d'Electronique 1983 tenutosi a Lausanne nel 11-13 October 1983).
Failure mechanisms and analysis of very large scale integrated circuits
FANTINI, Fausto;
1983
Abstract
The failure mechanisms affecting advanced Silicon integrated circuits are reviewed.
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