EnglishThe failure mechanisms affecting advanced Silicon integrated circuits are reviewed.
Failure mechanisms and analysis of very large scale integrated circuits / Fantini, Fausto; G., Mattana. - STAMPA. - (1983), pp. 85-104. ((Intervento presentato al convegno Journées d'Electronique 1983 tenutosi a Lausanne nel 11-13 October 1983.
| Data di pubblicazione: | 1983 |
| Titolo: | Failure mechanisms and analysis of very large scale integrated circuits |
| Autore/i: | Fantini, Fausto; G., Mattana |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Nome del convegno: | Journées d'Electronique 1983 |
| Luogo del convegno: | Lausanne |
| Data del convegno: | 11-13 October 1983 |
| Pagina iniziale: | 85 |
| Pagina finale: | 104 |
| Citazione: | Failure mechanisms and analysis of very large scale integrated circuits / Fantini, Fausto; G., Mattana. - STAMPA. - (1983), pp. 85-104. ((Intervento presentato al convegno Journées d'Electronique 1983 tenutosi a Lausanne nel 11-13 October 1983. |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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