The failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.

Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices / Fantini, F., Borgarino, M., L., C., P., C., R., M., G., S., C., C., G., M., E., Z.. - STAMPA. - 162:(1999), pp. 21-30. (N/A N/A N/A).

Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices

FANTINI, Fausto;BORGARINO, Mattia;
1999

Abstract

The failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.
1999
N/A
N/A
N/A
WOS:000177562700003
162
21
30
Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni
Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices / Fantini, F., Borgarino, M., L., C., P., C., R., M., G., S., C., C., G., M., E., Z.. - STAMPA. - 162:(1999), pp. 21-30. (N/A N/A N/A).
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