EnglishThe failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.
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| Data di pubblicazione: | 1999 |
| Titolo: | Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices |
| Autori: | F. FANTINI; M.BORGARINO; L.CATTANI; P.COVA; R.MENOZZI; G.SALVIATI; C.CANALI; G.MENEGHESSO; E.ZANONI |
| Autori: | |
| Data del convegno: | 12-16 October 1998 |
| Nome del convegno: | 21th International Symposium on Compound Semiconductors |
| Luogo del convegno: | Nara (Japan) |
| Titolo del libro: | Proceedings of the 21th International Symposium on Compound Semiconductors |
| Volume: | 162 |
| Pagina iniziale: | 21 |
| Pagina finale: | 30 |
| Appare nelle tipologie: | Relazione in Atti di Convegno |
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