Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices

Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; Cattani, L.; Cova, P.; Menozzi, R.; Salviati, G.; Canali, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.

The failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.

Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices / Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni. - STAMPA. - 162(1999), pp. 21-30. ((Intervento presentato al convegno N/A tenutosi a N/A nel N/A.

Data di pubblicazione:	1999
Titolo:	Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices
Autore/i:	Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni
Autore/i UNIMORE:	FANTINI, Fausto BORGARINO, Mattia L. CATTANI P. COVA R. MENOZZI G. SALVIATI C. CANALI G. MENEGHESSO E. ZANONI mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Codice identificativo ISI:	WOS:000177562700003
Nome del convegno:	N/A
Luogo del convegno:	N/A
Data del convegno:	N/A
Volume:	162
Pagina iniziale:	21
Pagina finale:	30
Citazione:	Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices / Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni. - STAMPA. - 162(1999), pp. 21-30. ((Intervento presentato al convegno N/A tenutosi a N/A nel N/A.
Tipologia	Relazione in Atti di Convegno

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http://hdl.handle.net/11380/464798

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