The failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.
Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices / Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni. - STAMPA. - 162:(1999), pp. 21-30. ((Intervento presentato al convegno N/A tenutosi a N/A nel N/A.
Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices
FANTINI, Fausto;BORGARINO, Mattia;
1999
Abstract
The failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
Caricamento pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
