The failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.
Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices / Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni. - STAMPA. - 162:(1999), pp. 21-30. (Intervento presentato al convegno N/A tenutosi a N/A nel N/A).
Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices
FANTINI, Fausto;BORGARINO, Mattia;
1999
Abstract
The failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.
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