The failure mechanisms affecting electron devices based on compound semiconductors are reviewed.
Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices / Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni. - STAMPA. - 162(1999), pp. 21-30. ((Intervento presentato al convegno N/A tenutosi a N/A nel N/A.
Data di pubblicazione: | 1999 |
Titolo: | Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices |
Autore/i: | Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni |
Autore/i UNIMORE: | |
Codice identificativo ISI: | WOS:000177562700003 |
Nome del convegno: | N/A |
Luogo del convegno: | N/A |
Data del convegno: | N/A |
Volume: | 162 |
Pagina iniziale: | 21 |
Pagina finale: | 30 |
Citazione: | Reliability issues in compound semiconductor heterojunction devices / Fantini, Fausto; Borgarino, Mattia; L., Cattani; P., Cova; R., Menozzi; G., Salviati; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni. - STAMPA. - 162(1999), pp. 21-30. ((Intervento presentato al convegno N/A tenutosi a N/A nel N/A. |
Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti presenti in Iris Unimore sono rilasciati con licenza Creative Commons Attribuzione - Non commerciale - Non opere derivate 3.0 Italia, salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris