Introduction. Conduction mechanisms in thin oxides. Instabilities due to contamination.
Degradation mechanisms in insulating films on Silicon / G., Baccarani; Fantini, Fausto. - STAMPA. - (1989), pp. 47-82.
Degradation mechanisms in insulating films on Silicon
FANTINI, Fausto
1989
Abstract
Introduction. Conduction mechanisms in thin oxides. Instabilities due to contamination.File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris