Introduction. Conduction mechanisms in thin oxides. Instabilities due to contamination.
Degradation mechanisms in insulating films on Silicon / G., B., Fantini, F. - In: Microlelectronic reliability, volume II, Integrity Assessment and Assurance / E. POLLINO. - STAMPA. - NORWOOD, MA : Artech House, 1989. - ISBN 0890063508. - pp. 47-82
Degradation mechanisms in insulating films on Silicon
FANTINI, Fausto
1989
Abstract
Introduction. Conduction mechanisms in thin oxides. Instabilities due to contamination.
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