EnglishThe paper presents new data on the reliability of GaAs MESFETs for microwave telecommunications obtained from the analysis of field repairs and accelerated tests. This work represents a systematic investigation of devices in the context of real applications, thus providing a significative contribution to the state of the art in the field.
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| Data di pubblicazione: | 1990 |
| Titolo: | Reliability of GaAs MESFETs |
| Autori: | B. RICCO'; F. FANTINI; F. MAGISTRALI; P. BRAMBILLA |
| Autori: | |
| Titolo del libro: | Semiconductor Device Reliability |
| Collana: | NATO ASI Series |
| Nome editore: | Kluwer Academic Publishers |
| ISBN: | 0792305361 9780792305361 |
| Pagina iniziale: | 455 |
| Pagina finale: | 469 |
| Appare nelle tipologie: | Capitolo/Saggio |
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