In questa seconda parte vengono presentati i fenomeni chimico-fisici che causano i guasti dei componenti elettronici.
L'affidabilità dei dispositivi a semiconduttore - parte seconda / Fantini, Fausto; G., Mattana; E., Zanoni. - In: FISICA E TECNOLOGIA. - ISSN 0391-9757. - STAMPA. - 6:(1983), pp. 235-276.
L'affidabilità dei dispositivi a semiconduttore - parte seconda
FANTINI, Fausto;
1983
Abstract
In questa seconda parte vengono presentati i fenomeni chimico-fisici che causano i guasti dei componenti elettronici.
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