Logic faults induced by negative inputs in TTL-LS bipolar devices have been analyzed. Failures are primarely induced by parasitic lateral npn transistors.
Anno di pubblicazione: | 1982 |
Titolo: | Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs |
Autore/i: | C.CANALI; F. FANTINI; G.SONCINI; P.VENTURI; E.ZANONI |
Autore/i UNIMORE: | |
Rivista: | |
Volume: | 51 |
Pagina iniziale: | 340 |
Pagina finale: | 344 |
Codice identificativo ISI: | WOS:A1982QF58500007 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0020204834 |
Citazione: | Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs / C.CANALI; F. FANTINI; G.SONCINI; P.VENTURI; E.ZANONI. - In: ALTA FREQUENZA. - ISSN 0002-6557. - STAMPA. - 51(1982), pp. 340-344. |
Tipologia | Articolo su rivista |
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