EnglishLogic faults induced by negative inputs in TTL-LS bipolar devices have been analyzed. Failures are primarely induced by parasitic lateral npn transistors.
| Data di pubblicazione: | 1982 |
| Titolo: | Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs |
| Autore/i: | C.CANALI; F. FANTINI; G.SONCINI; P.VENTURI; E.ZANONI |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Rivista: | |
| Volume: | 51 |
| Pagina iniziale: | 340 |
| Pagina finale: | 344 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:A1982QF58500007 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0020204834 |
| Citazione: | Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs / C.CANALI; F. FANTINI; G.SONCINI; P.VENTURI; E.ZANONI. - In: ALTA FREQUENZA. - ISSN 0002-6557. - STAMPA. - 51(1982), pp. 340-344. |
| Tipologia | Articolo su rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11380/451812
I documenti presenti in Iris Unimore sono rilasciati con licenza Creative Commons Attribuzione - Non commerciale - Non opere derivate 3.0 Italia, salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
Copyright © 2019