Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs

Canali, C.; Fantini, Fausto; Soncini, G.; Venturi, P.; Zanoni, E.

Logic faults induced by negative inputs in TTL-LS bipolar devices have been analyzed. Failures are primarely induced by parasitic lateral npn transistors.

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Anno di pubblicazione:	1982
Titolo:	Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs
Autori:	C.CANALI; F. FANTINI; G.SONCINI; P.VENTURI; E.ZANONI
Autori:	C. CANALI FANTINI, Fausto G. SONCINI P. VENTURI E. ZANONI mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Rivista:	ALTA FREQUENZA
Volume:	51
Pagina iniziale:	340
Pagina finale:	344
Appare nelle tipologie:	Articolo su rivista

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http://hdl.handle.net/11380/451812

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