Logic faults induced by negative inputs in TTL-LS bipolar devices have been analyzed. Failures are primarely induced by parasitic lateral npn transistors.
Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs / C., Canali; Fantini, Fausto; G., Soncini; P., Venturi; E., Zanoni. - In: ALTA FREQUENZA. - ISSN 0002-6557. - STAMPA. - 51:(1982), pp. 340-344.
Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs
FANTINI, Fausto;
1982
Abstract
Logic faults induced by negative inputs in TTL-LS bipolar devices have been analyzed. Failures are primarely induced by parasitic lateral npn transistors.
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