In this paper we analyse and discuss some failure analyses performed on power GaAs MESFET. The pieces came both from accelerated tests and from the field.
Power GaAs MESFET: reliability aspects and failure mechanisms / C., Canali; F., Castaldo; Fantini, Fausto; D., Ogliari; M., Vanzi; M., Zicolillo; E., Zanoni. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 24:(1984), pp. 947-955.
Power GaAs MESFET: reliability aspects and failure mechanisms
FANTINI, Fausto;
1984
Abstract
In this paper we analyse and discuss some failure analyses performed on power GaAs MESFET. The pieces came both from accelerated tests and from the field.
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