An electron beam testing system was established foe a complete and detailed analysis of latch-up in CMOS integrated circuits.

A SEM based system for a complete characterisation of latch-up in CMOS integrated circuits / C., Canali; Fantini, Fausto; M., Giannini; A., Senin; M., Vanzi; E., Zanoni. - In: SCANNING. - ISSN 0161-0457. - STAMPA. - 8:(1986), pp. 20-33.

A SEM based system for a complete characterisation of latch-up in CMOS integrated circuits

FANTINI, Fausto;
1986-01-01

Abstract

An electron beam testing system was established foe a complete and detailed analysis of latch-up in CMOS integrated circuits.
8
20
33
A SEM based system for a complete characterisation of latch-up in CMOS integrated circuits / C., Canali; Fantini, Fausto; M., Giannini; A., Senin; M., Vanzi; E., Zanoni. - In: SCANNING. - ISSN 0161-0457. - STAMPA. - 8:(1986), pp. 20-33.
C., Canali; Fantini, Fausto; M., Giannini; A., Senin; M., Vanzi; E., Zanoni
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
sca.4950080105.pdf

Open access

Tipologia: Versione pubblicata dall'editore
Dimensione 2.59 MB
Formato Adobe PDF
2.59 MB Adobe PDF Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

Licenza Creative Commons
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/451805
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 7
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 5
social impact