DC tests may be the method on which to found an unitary methodology for setting and analysis of GaAs MESFET reliability studies. Each failure mechanism must be stressed without introducing erroneous one, due to the artificial conditions of accelerated tests. A text fixture for these tests must enable the hgghest contro of aging conditions.

Text fixture for MESFET reliability life tests / C., Canali; F., Chiussi; Fantini, Fausto; G., Muzzin; L., Umena. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 27:(1987), pp. 897-911.

Text fixture for MESFET reliability life tests

FANTINI, Fausto;
1987

Abstract

DC tests may be the method on which to found an unitary methodology for setting and analysis of GaAs MESFET reliability studies. Each failure mechanism must be stressed without introducing erroneous one, due to the artificial conditions of accelerated tests. A text fixture for these tests must enable the hgghest contro of aging conditions.
1987
27
897
911
Text fixture for MESFET reliability life tests / C., Canali; F., Chiussi; Fantini, Fausto; G., Muzzin; L., Umena. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 27:(1987), pp. 897-911.
C., Canali; F., Chiussi; Fantini, Fausto; G., Muzzin; L., Umena
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