This paper reviews the reliability of III-V semiconductor devices with particular attention to the failure mechanisms typical of these structures.

Reliability of compound semiconductor devices / Fantini, Fausto; F., Magistrali. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 32:(1992), pp. 1559-1569.

Reliability of compound semiconductor devices

FANTINI, Fausto;
1992

Abstract

This paper reviews the reliability of III-V semiconductor devices with particular attention to the failure mechanisms typical of these structures.
32
1559
1569
Reliability of compound semiconductor devices / Fantini, Fausto; F., Magistrali. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 32:(1992), pp. 1559-1569.
Fantini, Fausto; F., Magistrali
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