The reliability of DHBC and DFB InGaAsP/InP lasers have been evaluated by means of high-temperature operating life tests between 80 and 110°C.

Very high temperature test of InP-based Laser Diodes / M., Tesauri; G., Chiorboli; P., Cova; Fantini, Fausto; F., Magistrali; D., Sala. - In: QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL. - ISSN 0748-8017. - STAMPA. - 9:(1993), pp. 377-382.

Very high temperature test of InP-based Laser Diodes

FANTINI, Fausto;
1993

Abstract

The reliability of DHBC and DFB InGaAsP/InP lasers have been evaluated by means of high-temperature operating life tests between 80 and 110°C.
1993
9
377
382
Very high temperature test of InP-based Laser Diodes / M., Tesauri; G., Chiorboli; P., Cova; Fantini, Fausto; F., Magistrali; D., Sala. - In: QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL. - ISSN 0748-8017. - STAMPA. - 9:(1993), pp. 377-382.
M., Tesauri; G., Chiorboli; P., Cova; Fantini, Fausto; F., Magistrali; D., Sala
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

Licenza Creative Commons
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/451785
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 1
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact