EnglishThe presence of a different activation energy for the electromigration during the early phase of accelerated tests is demonstrated and discussed.
Activation energy in the early stage of electromigration in Al-1%Si/TiN/Ti bamboo lines / I., DE MUNARI; A., Scorzoni; F., Tamarri; Fantini, Fausto. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - STAMPA. - 10(1995), pp. 255-259.
| Data di pubblicazione: | 1995 | |
| Titolo: | Activation energy in the early stage of electromigration in Al-1%Si/TiN/Ti bamboo lines | |
| Autore/i: | I., DE MUNARI; A., Scorzoni; F., Tamarri; Fantini, Fausto | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Rivista: | ||
| Volume: | 10 | |
| Pagina iniziale: | 255 | |
| Pagina finale: | 259 | |
| Codice identificativo ISI: | WOS:A1995QL90600004 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0029271837 | |
| Citazione: | Activation energy in the early stage of electromigration in Al-1%Si/TiN/Ti bamboo lines / I., DE MUNARI; A., Scorzoni; F., Tamarri; Fantini, Fausto. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - STAMPA. - 10(1995), pp. 255-259. | |
| Tipologia | Articolo su rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
Loading suggested articles...
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11380/451779
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
Copyright © 2021