EnglishThe paper reports the results of accelerated life tests on p- and n-channel EPROMs, and compares the indication thus obtained with data from the field.
Attenzione! Scheda prodotto non ancora validata dall'Ateneo
Dati e metadati della pubblicazione sono in fase di verifica da parte dell'Ateneo. In caso di errori o violazione dei diritti d'autore, contattare: supporto.iris@unimore.it
| Anno di pubblicazione: | 1983 |
| Titolo: | Investigation of information loss mechanisms in EPROMs |
| Autori: | BERTOTTI D.; F. FANTINI; MORANDI C. |
| Autori: | |
| Rivista: | |
| Volume: | 23 |
| Pagina iniziale: | 717 |
| Pagina finale: | 743 |
| Appare nelle tipologie: | Articolo su rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11380/451736
I documenti presenti in Iris Unimore sono rilasciati con licenza Creative Commons Attribuzione - Non commerciale - Non opere derivate 3.0 Italia, salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
Copyright © 2018