The paper reports the results of accelerated life tests on p- and n-channel EPROMs, and compares the indication thus obtained with data from the field.

Investigation of information loss mechanisms in EPROMs / Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 23:(1983), pp. 717-743.

Investigation of information loss mechanisms in EPROMs

FANTINI, Fausto;
1983

Abstract

The paper reports the results of accelerated life tests on p- and n-channel EPROMs, and compares the indication thus obtained with data from the field.
23
717
743
Investigation of information loss mechanisms in EPROMs / Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 23:(1983), pp. 717-743.
Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.
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