EnglishThe paper reports the results of accelerated life tests on p- and n-channel EPROMs, and compares the indication thus obtained with data from the field.
Investigation of information loss mechanisms in EPROMs / Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 23(1983), pp. 717-743.
| Data di pubblicazione: | 1983 | |
| Titolo: | Investigation of information loss mechanisms in EPROMs | |
| Autore/i: | Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C. | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Rivista: | ||
| Volume: | 23 | |
| Pagina iniziale: | 717 | |
| Pagina finale: | 743 | |
| Codice identificativo ISI: | WOS:A1983RQ09500004 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0020944073 | |
| Citazione: | Investigation of information loss mechanisms in EPROMs / Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 23(1983), pp. 717-743. | |
| Tipologia | Articolo su rivista |
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http://hdl.handle.net/11380/451736
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