EnglishThe paper reports the results of accelerated life tests on p- and n-channel EPROMs, and compares the indication thus obtained with data from the field.
Investigation of information loss mechanisms in EPROMs / Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 23(1983), pp. 717-743.
| Data di pubblicazione: | 1983 |
| Titolo: | Investigation of information loss mechanisms in EPROMs |
| Autore/i: | Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C. |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Rivista: | |
| Volume: | 23 |
| Pagina iniziale: | 717 |
| Pagina finale: | 743 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:A1983RQ09500004 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0020944073 |
| Citazione: | Investigation of information loss mechanisms in EPROMs / Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 23(1983), pp. 717-743. |
| Tipologia | Articolo su rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11380/451736
I documenti presenti in Iris Unimore sono rilasciati con licenza Creative Commons Attribuzione - Non commerciale - Non opere derivate 3.0 Italia, salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
Copyright © 2020