EnglishDegradation of n-Si/PtSi/(ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments.
Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments / Canali, C.; Fantini, Fausto; Zanoni, E.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - STAMPA. - 97:(1982), pp. 3250331-3250331.
| Data di pubblicazione: | 1982 | |
| Titolo: | Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments | |
| Autore/i: | Canali, C.; Fantini, Fausto; Zanoni, E. | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Rivista: | ||
| Volume: | 97 | |
| Pagina iniziale: | 3250331 | |
| Pagina finale: | 3250331 | |
| Codice identificativo ISI: | WOS:A1982PU01600004 | |
| Citazione: | Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments / Canali, C.; Fantini, Fausto; Zanoni, E.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - STAMPA. - 97:(1982), pp. 3250331-3250331. | |
| Tipologia | Articolo su rivista |
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