Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments

Canali, C.; Fantini, Fausto; Zanoni, E.

Degradation of n-Si/PtSi/(ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments.

Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments / Canali, C.; Fantini, Fausto; Zanoni, E.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - STAMPA. - 97(1982), pp. 3250331-3250331.

Data di pubblicazione:	1982
Titolo:	Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments
Autore/i:	Canali, C.; Fantini, Fausto; Zanoni, E.
Autore/i UNIMORE:	CANALI C. FANTINI, Fausto ZANONI E. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Rivista:	THIN SOLID FILMS
Volume:	97
Pagina iniziale:	3250331
Pagina finale:	3250331
Codice identificativo ISI:	WOS:A1982PU01600004
Citazione:	Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments / Canali, C.; Fantini, Fausto; Zanoni, E.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - STAMPA. - 97(1982), pp. 3250331-3250331.
Tipologia	Articolo su rivista

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http://hdl.handle.net/11380/451733

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