This paper shows how the fault models introduced in the parent paper [1] may be applied to a commercial device.

EPROM testing - part II: application to 16K N-channel devices / Alliney, S.; Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 22:(1982), pp. 987-996.

EPROM testing - part II: application to 16K N-channel devices

FANTINI, Fausto;
1982

Abstract

This paper shows how the fault models introduced in the parent paper [1] may be applied to a commercial device.
22
987
996
EPROM testing - part II: application to 16K N-channel devices / Alliney, S.; Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 22:(1982), pp. 987-996.
Alliney, S.; Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.
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