This paper shows how the fault models introduced in the parent paper [1] may be applied to a commercial device.
EPROM testing - part II: application to 16K N-channel devices / Alliney, S.; Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 22:(1982), pp. 987-996.
EPROM testing - part II: application to 16K N-channel devices
FANTINI, Fausto;
1982
Abstract
This paper shows how the fault models introduced in the parent paper [1] may be applied to a commercial device.File in questo prodotto:
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