EnglishIn questo capitolo vengono descritte alcune tra le metodologie di analisi e fabbricazione disponibili su una classe relativamente recente di microscopi a scansione come il Focusd Ion Beam (FIB) e gli strumenti a doppia colonna FIB+SEM. Sul versante analisi verranno descritti metodi per l’osservazione in pianta e sezione trasversale con i microscopi a scansione e metodi per la preparazione di campioni da aree selezionate per la microscopia elettronica in trasmissione in sezione trasversale. Per quanto concerne la fabbricazione saranno riportati esempi relativi alla nano-strutturazione di superfici, la modifica di punte per microscopia a sonda e la deposizione assistita da fascio (sia ionico che elettronico).
Il FIB come strumento nella sintesi, preparazione e caratterizzazione di materiali e dispositivi / Frabboni, Stefano; G. C., Gazzadi; C., Menozzi. - STAMPA. - (2007), pp. 125-138.
| Data di pubblicazione: | 2007 |
| Titolo: | Il FIB come strumento nella sintesi, preparazione e caratterizzazione di materiali e dispositivi |
| Autore/i: | Frabboni, Stefano; G. C., Gazzadi; C., Menozzi |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Titolo del libro: | 1956-2006 Cinquantanni di Microscopia in Italia tra storia, progresso ed innovazione |
| ISBN: | 9788879632157 |
| Editore: | SOCIETA' ITALIANA SCIENZE MICROSCOPICHE |
| Nazione editore: | ITALIA |
| Citazione: | Il FIB come strumento nella sintesi, preparazione e caratterizzazione di materiali e dispositivi / Frabboni, Stefano; G. C., Gazzadi; C., Menozzi. - STAMPA. - (2007), pp. 125-138. |
| Tipologia | Capitolo/Saggio |
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