semiconductor interfaces
Structural and electronic properties of CaF2-Si(111) interface / Ossicini, Stefano; C., Arcangeli; Bisi, Olmes. - In: VUOTO. - ISSN 0391-3155. - STAMPA. - 20:(1990), pp. 66-68.
Structural and electronic properties of CaF2-Si(111) interface
OSSICINI, Stefano;BISI, Olmes
1990
Abstract
semiconductor interfaces
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