Modeling framework linking material characterization to reliability prediction / Larcher, L.; Milo, V.; Palmieri, A.; Torraca, P. La; Padovani, A.; Nardi, F.; Pesic, M.. - (2023), pp. 1-4. ( 7th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference, EDTM 2023 Seoul, Korea, Republic of 07-10 March 2023) [10.1109/edtm55494.2023.10937707].

Modeling framework linking material characterization to reliability prediction

Larcher, L.;Padovani, A.;
2023
2023
7th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference, EDTM 2023
Seoul, Korea, Republic of
07-10 March 2023
2-s2.0-105002319503
1
4
Larcher, L.; Milo, V.; Palmieri, A.; Torraca, P. La; Padovani, A.; Nardi, F.; Pesic, M.
Modeling framework linking material characterization to reliability prediction / Larcher, L.; Milo, V.; Palmieri, A.; Torraca, P. La; Padovani, A.; Nardi, F.; Pesic, M.. - (2023), pp. 1-4. ( 7th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference, EDTM 2023 Seoul, Korea, Republic of 07-10 March 2023) [10.1109/edtm55494.2023.10937707].
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