Defectivity of Al:ZnO thin films with different crystalline order probed by Positron Annihilation Spectroscopy / Magrin Maffei, R.; Butterling, M.; Liedke, M. O.; D'Addato, S.; di Bona, A.; Bertoni, G.; Gazzadi, G. C.; Mariazzi, S.; Wagner, A.; Brusa, R. S.; Benedetti, S.. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 665:(2024), pp. 160240-160251. [10.1016/j.apsusc.2024.160240]
Defectivity of Al:ZnO thin films with different crystalline order probed by Positron Annihilation Spectroscopy
Magrin Maffei R.;D'Addato S.;di Bona A.;Bertoni G.;Gazzadi G. C.;Benedetti S.
2024
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