Defectivity of Al:ZnO thin films with different crystalline order probed by Positron Annihilation Spectroscopy / Magrin Maffei, R., Butterling, M., Liedke, M.O., D'Addato, S., Di Bona, A., Bertoni, G., Gazzadi, G.C., Mariazzi, S., Wagner, A., Brusa, R.S., Benedetti, S.. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 665:(2024), pp. 160240-160251. [10.1016/j.apsusc.2024.160240]
Defectivity of Al:ZnO thin films with different crystalline order probed by Positron Annihilation Spectroscopy
Magrin Maffei R.;D'Addato S.;di Bona A.;Bertoni G.;Gazzadi G. C.;Benedetti S.
2024
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