Electrically active defects in Al2O3-InGaAs MOS stacks at cryogenic temperatures / La Torraca, Paolo; Padovani, Andrea; Wernersson, Lars-Erik; Cherkaoui, Karim; Hurley, Paul; Larcher, Luca. - (2023). (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) tenutosi a South Lake Tahoe, CA, USA nel 08-12 October 2023) [10.1109/iirw59383.2023.10477706].
Electrically active defects in Al2O3-InGaAs MOS stacks at cryogenic temperatures
La Torraca, Paolo;Padovani, Andrea;Larcher, Luca
2023
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